[发明专利]一种磁光克尔效应与磁晶各向异性场测量系统及测量方法无效
申请号: | 201110098131.4 | 申请日: | 2011-04-19 |
公开(公告)号: | CN102252969A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 梁建辉;武迪;胡春瑞;刘方泽;吴义政 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | G01N21/21 | 分类号: | G01N21/21;G01R33/12 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于物理测量技术领域,具体为一种磁光克尔效应与磁晶各向异性场测量系统及测量方法。测量系统包括两个部分:磁铁控制部分和激光探测部分。磁铁控制部分主要包含磁铁架、电源、ADDA卡以及计算机,计算机通过ADDA卡分别控制两个电源输出电流的大小与方向,分别控制磁场的大小与方向,得到所需的合成磁场;激光探测部分由激光器、起偏器、检偏器、光电探测器、ADDA卡以及计算机组成,激光器发出的激光经通过起偏器、检偏器过滤后射到光电探测器上,信号经ADDA卡转化,传输到计算机中,得到探测点的克尔信号。本发明可消除机械振动,减小测量噪音,增大测量准确度,可以准确、高效地得到样品的磁信号和磁晶各向异性场。 | ||
搜索关键词: | 一种 克尔 效应 各向异性 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】:
一种磁光克尔效应与磁晶各向异性场测量系统,其特征在于包括两个部分:磁铁控制部分和激光探测部分;其中:所述磁铁控制部分包含磁铁架、两个电源、ADDA卡以及计算机,其中磁铁架由一大一小两个正方形金属架将四个缠有漆包铜线的铁芯固定而组成,四个铁芯两两相对并留有空间,每个铁芯上的铜线圈匝数相同;两个电源用于给上述铜线圈提供电流:左右两组线圈串联,用第一电源1提供电流,产生横向磁场;上下两组线圈串联,用第二电源2提供电流,产生纵向磁场;计算机通过ADDA卡分别控制两个电源输出电流的大小与方向,从而分别控制横向磁场与纵向磁场的大小与方向;所述激光探测部分由激光器、起偏器、检偏器、光电探测器、ADDA卡以及计算机组成;其中,激光器发出的激光经通过起偏器形成一束线偏振光打在处于磁场中样品上,反射光通过检偏器过滤后打在光电探测器上,光电探测器接收到的信号经ADDA卡转化,变成数字信号被传输到计算机中,由此就得到样品在该探测点的克尔信号。
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