[发明专利]一种基于多谱孔隙结构分析的饱和度确定方法有效

专利信息
申请号: 201110099485.0 申请日: 2011-04-20
公开(公告)号: CN102262041A 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 李宁;王克文;武宏亮;冯庆付;李庆峰;董丽欣 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08;G01V3/14
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 戴云霓
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于多谱孔隙结构分析的饱和度确定方法,所述方法包括:对典型岩石样品进行岩心微CT扫描成像,在三维空间定量提取所述典型岩石样品的孔隙半径分布谱;根据所述典型岩石样品的核磁T2谱,获取所述典型岩石样品的孔隙结构特征;根据所述典型岩石样品的电成像测井数据,生成所述典型岩石样品的孔隙度分布谱;根据所述孔隙半径分布谱、核磁T2分布谱以及电成像孔隙度分布谱,共同确定所述典型岩石样品的孔隙结构类别;根据所述典型岩石样品的孔隙结构类别,确定与所述典型岩石样品对应的饱和度模型,并采用所述饱和度模型确定所述典型岩石样品所在的油气储集层的饱和度。
搜索关键词: 一种 基于 孔隙 结构 分析 饱和度 确定 方法
【主权项】:
一种基于多谱孔隙结构分析的饱和度确定方法,其特征在于,所述方法包括:对典型岩石样品进行岩心微CT扫描成像,在三维空间定量提取所述典型岩石样品的孔隙半径分布谱;根据所述典型岩石样品的核磁T2谱,获取所述典型岩石样品的孔隙结构特征;根据所述典型岩石样品的电成像测井数据,生成所述典型岩石样品的孔隙度分布谱;根据所述孔隙半径分布谱、核磁T2分布谱以及电成像孔隙度分布谱,共同确定所述典型岩石样品的孔隙结构类别;根据所述典型岩石样品的孔隙结构类别,确定与所述典型岩石样品对应的饱和度模型,并采用所述饱和度模型确定所述典型岩石样品所在的油气储集层的饱和度。
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