[发明专利]紧缩场天线测量系统有效

专利信息
申请号: 201110099621.6 申请日: 2011-04-20
公开(公告)号: CN102749529A 公开(公告)日: 2012-10-24
发明(设计)人: 刘若鹏;徐冠雄;张洋洋;赵治亚 申请(专利权)人: 深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R29/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种紧缩场天线测量系统包括设置于所述微波暗室内的馈源;所述紧缩场天线测量系统还包括由多片超材料层叠加形成的一平面波生成单元,每一片超材料层包括基材以及设置在基材上的多个人造孔微结构,所述馈源产生的电磁波穿过所述平面波生成单元后转换成平面电磁波。采用超材料制成的平面波生成单元代替现有技术中的反射面,根据测试要求计算机仿真面波生成单元折射特性,使所述馈源产生的电磁波经所述平面波生成单元折射后,在所述天线测试转台上提供一个性能优良的准平面波测试区。因此省略了制造高精度的反射面及高难度的加工艺;大大降低了紧缩场天线测量系统造价成本。
搜索关键词: 紧缩 天线 测量 系统
【主权项】:
一种紧缩场天线测量系统,包括设置于所述微波暗室内的馈源;其特征在于,所述紧缩场天线测量系统还包括由多片超材料层叠加形成的一平面波生成单元,每一片超材料层包括基材以及设置在基材上的多个人造孔微结构,所述馈源产生的电磁波穿过所述平面波生成单元后转换成平面电磁波。
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