[发明专利]无冗余通道的时间交叉ADC劈分校准结构及其自适应校准方法有效

专利信息
申请号: 201110102646.7 申请日: 2011-04-22
公开(公告)号: CN102291141A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 尹勇生;张睿;梁上泉;邓红辉;宋宇鲲;高明伦 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人: 何梅生
地址: 230009 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种无冗余通道的时间交叉ADC劈分校准结构及其自适应校准方法,其特征是设置由N个采样速率为fs/N的劈分ADC通道构成的采样速率为fs的子时间交叉ADC模块(子TIADC-A)和由L个采样速率为fs/L的劈分ADC通道构成的采样速率为fs的子时间交叉ADC模块(子TIADC-B),共同组成一个基于劈分通道互校准的总TIADC。子TIADC-A和子TIADC-B以相同采样速率fs对同一输入信号在同一时刻进行采样并转换,子TIADC-A和子TIADC-B转换输出的差值被用在趋零型自适应校准算法中以计算劈分ADC通道间的失配误差估计值。当通道间的失配误差得到正确的校准之后,以子TIADC-A和子TIADC-B转换输出值的算术平均值作为基于劈分通道互校准的总TIADC最后的转换输出值。本发明计算复杂度低、易于硬件实现,能够应用于任意通道数的TIADC校准。
搜索关键词: 冗余 通道 时间 交叉 adc 校准 结构 及其 自适应 方法
【主权项】:
一种无冗余通道的时间交叉ADC劈分校准结构,其特征是:设置由N个采样速率为fs/N的劈分ADC通道构成的采样速率为fs的子TIADC‑A和由L个采样速率为fs/L的劈分ADC通道构成的采样速率为fs的子TIADC‑B,共同组成一个基于劈分通道互校准的总TIADC,其中N和L互质,所述子TIADC‑A和子TIADC‑B以相同采样速率fs对同一输入信号在同一时刻进行采样并转换,所述子TIADC‑A和子TIADC‑B转换输出的差值被用在趋零型自适应校准算法中以计算劈分ADC通道间的失配误差估计值,以所述自适应校准算法补偿通道间的失配误差,所述自适应校准算法的收敛标准是使所述子TIADC‑A和子TIADC‑B转换输出的差值的能量最小化,当通道间的失配误差得到正确的校准之后,以所述子TIADC‑A和子TIADC‑B转换输出值的算术平均值作为基于劈分通道互校准的总TIADC的最后输出值。
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