[发明专利]半导体器件有效

专利信息
申请号: 201110104418.3 申请日: 2011-04-21
公开(公告)号: CN102237359A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 舛冈富士雄;新井绅太郎 申请(专利权)人: 日本优尼山帝斯电子株式会社
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L27/092;H01L29/78;H01L21/8238
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 赵根喜;冯志云
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种半导体器件,CMOS反向器结合电路由使用SGT的串联连接成2段以上的CMOS反向器所构成。多个CMOS反向器共同使用衬底的源极扩散层。形成在栅极配线上的接触部的构造不同的CMOS反向器交互邻接配置。CMOS反向器彼此以最小间隔配置。CMOS反向器的输出端通过下一段的CMOS反向器的接触部,连接在下一段的CMOS反向器的配线层。本发明可利用SGT形成占有面积小且连接成2段以上的CMOS反向器。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
一种半导体器件,具备结合有至少2段以上的CMOS反向器的CMOS反向器结合电路,其特征在于:所述CMOS反向器由纵型MOS晶体管所构成,该纵型MOS晶体管的源极扩散层、漏极扩散层及柱状半导体层相对于衬底阶层性地配置在垂直方向,所述柱状半导体层配置在所述源极扩散层与所述漏极扩散层之间,且在所述柱状半导体层的侧壁形成有栅极电极;所述CMOS反向器结合电路包含:第1段的第1CMOS反向器,由排列在衬底上的第1列的多个纵型MOS晶体管所构成;及第2段的第2CMOS反向器,由排列在所述衬底上的第2列的多个纵型MOS晶体管所构成;排列在所述第1列的多个纵型MOS晶体管由形成在第1N+源极扩散层上的1个或多个第1NMOS纵型晶体管、及形成在第1P+源极扩散层上的1个或多个第1PMOS纵型晶体管所构成;所述第1N+源极扩散层与所述第1P+源极扩散层彼此邻接而形成;在所述第1N+源极扩散层输入有第1电位,在所述第1P+源极扩散层输入有第2电位;所述1个或多个第1NMOS纵型晶体管的栅极电极与所述1个或多个第1PMOS纵型晶体管的栅极电极相连接,且形成第1栅极配线;在所述第1栅极配线的端部,形成有用以将输入电压输入至所述第1CMOS反向器的第1接触部;在构成所述1个或多个第1NMOS纵型晶体管的柱状半导体层的上部,形成有第1N+漏极扩散层,在所述第1N+漏极扩散层上,形成有连接所述第1N+漏极扩散层与用以输出所述第1反向器的输出电压的第1配线层的第2接触部;在构成所述1个或多个第1PMOS纵型晶体管的柱状半导体层的上部,形成有第1P+漏极扩散层,在所述第1P+漏极扩散层上,形成有连接所述第1P+漏极扩散层与用以输出所述第1反向器的输出电压的第1配线层的第3接触部;排列在所述第2列的多个纵型MOS晶体管由形成在所述第1N+源极扩散层上的1个或多个第2NMOS纵型晶体管、及形成在所述第1P+源极扩散层上的1个或多个第2PMOS纵型晶体管所形成;所述1个或多个第2NMOS纵型晶体管的栅极电极、与所述1个或多个第2PMOS纵型晶体管的栅极电极相连接,且形成第2栅极配线;在所述第2栅极配线上的另一方端部,形成有用以将输入电压输入至所述第2CMOS反向器的第4接触部;所述第4接触部与所述第1配线层相连接;在构成所述1个或多个第2NMOS纵型晶体管的柱状半导体层的上部,形成有第2N+漏极扩散层,在所述第2N+漏极扩散层上,形成有连接所述第2N+漏极扩散层与用以输出所述第2CMOS反向器的输出电压的第2配线层的第5接触部;在构成所述1个或多个第2PMOS纵型晶体管的柱状半导体层的上部,形成有第2P+漏极扩散层,在所述第2P+漏极扩散层上,形成有连接所述第2P+漏极扩散层与用以输出所述第2CMOS反向器的输出电压的第2配线层的第6接触部;所述第1CMOS反向器与所述第2CMOS反向器交互结合。
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