[发明专利]用于确定螺旋结构的方法有效
| 申请号： | 201110104544.9 | 申请日： | 2011-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN102252644A | 公开（公告）日： | 2011-11-23 |
| 发明（设计）人： | J·泽维希 | 申请（专利权）人： | 霍梅尔-埃塔米克有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30;G01B11/30 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 董华林 |
| 地址： | 德国菲林根*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定至少局部为圆柱形工件的表面粗糙度中的螺旋结构的方法，其中，在工件所关注的表面区域中实施多个在工件轴向方向上延伸的、在圆周方向上彼此隔开距离的切片扫描，根据由切片扫描获得的测量值确定螺旋结构的至少一个特征参数的值。根据本发明，根据与第一扫描切片相配的测量值确定螺旋结构的至少一个特征参数的估计值，并且根据与至少一个第二扫描切片相配的测量值校正所述估计值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 螺旋 结构 方法 | ||
【主权项】：
用于确定至少局部为圆柱形的工件的表面粗糙度中的螺旋结构的方法，其中，在工件所关注的表面区域中实施多次在工件轴向方向上延伸的、在圆周方向上彼此隔开距离的切片扫描，根据通过扫描切片获得的测量值确定螺旋结构的至少一个特征参数的值，其特征在于，根据与第一扫描切片相配的测量值确定螺旋结构的至少一个特征参数的估计值，并且根据与至少一个第二扫描切片相配的测量值校正所述估计值。
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