[发明专利]一种大型法兰平面度检测方法

摘要

本发明公开了一种大型法兰平面度检测方法，其包括下列步骤：在法兰平面上选取三个测量基准点；架设激光发射器，以此三个基准点为基础配合激光探测器，确定一个与所检法兰面平行的激光束扫掠面作为测量基准面；确定测量点，并依次逐点进行测量记录数据；根据所测数据计算出法兰的平面度。采用该测量方法可实现对大型法兰机加工面的平面度在任意姿态随时、快速、准确的测定。一是由于激光设备具有高精确性的显示结果，对于大型法兰件的测量能保证准确性；二是检测方法与法兰面的姿态无关，现场检验结果获取效率高；再是检测不依赖于机加工设备做基准，具有独立性，其检测精度不受机加工设备的影响。

主权项

一种大型法兰平面度检测方法，其特征在于包括下列步骤：A、选取测量基准点：在待测法兰面上选取在圆周上尽量均匀分布的3个点位作为测量基准点，并依次标记为基准点A、B、C，以便复检；B、确定测量基准面：确定一个与待测法兰面平面相平行的平面作为测量基准面，具体包括如下步骤：B1、固定激光发射器安放位置：将激光发射器架设在待检法兰面上或靠近法兰面的其它固定夹具上，使其靠近其中一个测量基准点处，激光发射器的两个基座调节钮与支点连线的延长线分别尽可能靠近另外两个基准点方向，并保证激光发射器基座底部不低于所检测法兰平面30mm；B2、粗调激光发射器：调整激光发射器基座，使激光束扫掠面在三个基准点处都经过激光探测器可视标靶的中心，具体包括如下步骤：B21、调整激光发射器基座旋钮，使旋钮处于中间位置；B22、将激光探测器放置于靠近发射器处的测量基准点A，调整激光探测器的高度，使激光经过探测器标靶中心，随后固定探测器的高度位置，防止移动；B23、将激光探测器依次放置于另外两处测量基准点B、C，调整激光发射器的基座上与测量基准点相对应的旋钮，分别使在两处测量基准点时激光发射器发射的激光都能经过激光探测器的标靶中心；否则进行步骤B24；B24、重复B22、B23步骤的过程，直至达到以上目的；B3、精调激光发射器：调整激光发射器基座旋钮，使激光束扫掠面在三个基准点时的激光探测器读数在0.01mm以内，具体包括如下步骤：B31、将激光探测器放置于激光发射器处的基准点A，将激光探测器读数置零；B32、将激光探测器依次放置于另外两处基准点B、C，微调激光发射器的基座上与测量基准点相对应的旋钮，分别使激光探测器读数在0.01mm以内，否则进行步骤B33；B33、重复B31、B32步骤的过程，直至达到以上目的；此时，激光发射器的激光束扫掠面即为测量基准面；C、测量：在法兰面上选取测量点，通过激光探测器检测测量点到基准面的距离，从而反映出法兰面的平面度，具体包括如下步骤：C1、根据检验要求和法兰半径的大小确定测量点的数量，测量点沿圆周均布；C2、放置激光探测器于基准点A处，将探测器读数置零；C3、沿固定方向依次测量所选点位，并记录测量数据；C4、最后返回基准点A处，检查读数是否为零；C5、将各测量点所测出的测量数据，即各测量点相对于测量基准面的偏差数据标注在测量点分布图上，由分布图上找出最大和最小偏差值，经计算得出平面度，即：Δ＝最大偏差值‑最小偏差值。