[发明专利]凸度仪用校准机构无效

专利信息
申请号: 201110105162.8 申请日: 2011-04-26
公开(公告)号: CN102297668A 公开(公告)日: 2011-12-28
发明(设计)人: 吴志芳;李立涛;王振涛 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B15/02 分类号: G01B15/02;B21B38/04
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 廖元秋
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及凸度仪用校准机构,属于核技术应用领域,该校准机构为一箱式结构,包括一箱体,固定在箱体内的多个驱动机构,放置在每个驱动机构上的校准片,和与驱动机构通过控制线相连并设置在远离箱体的控制单元,所述的箱体上顶及下底的相应位置开有使射线穿过的长条通孔,该校准片由驱动机构带动沿长条通孔径向移动,使该长条通孔遮盖或开启。
搜索关键词: 凸度仪用 校准 机构
【主权项】:
一种凸度仪用校准机构,其特征在于,该校准机构为一箱式结构,包括一箱体,固定在箱体内的多个驱动机构,放置在每个驱动机构上的校准片,和与驱动机构通过控制线相连并设置在远离箱体的控制单元,所述的箱体上顶及下底的相应位置开有使射线穿过的长条通孔,该校准片由驱动机构带动沿长条通孔径向移动,使该长条通孔遮盖或开启。
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