[发明专利]精确预测使用寿命的方法和设备有效
| 申请号： | 201110105574.1 | 申请日： | 2011-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN102279149A | 公开（公告）日： | 2011-12-14 |
| 发明（设计）人： | H·K·哈德卡斯尔;R·舒尔茨 | 申请（专利权）人： | 阿特拉斯材料测试技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 申发振 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 通过将试样暴露于加速老化测试设备内的多变量微环境循环的工作参数来精确预测使用寿命的方法和设备，该设备包括与辐照源、温度调节源和湿度调节源相连接的控制器，用于：将试样暴露于测试腔室内再现的多变量微环境循环的工作参数；监测试样于多变量微环境循环中的暴露以产生运行时变量；以及调整运行时变量与工作参数一致。 | ||
| 搜索关键词： | 精确 预测 使用寿命 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种通过控制加速老化测试设备精确预测使用寿命的方法，该加速老化测试设备包括；测试腔室，设置在所述测试腔室内的用来支撑试样的支架，设置在所述测试腔室内的辐照源，设置在所述加速老化测试设备内并且与所述测试腔室相连通的温度调节源，设置在所述加速老化测试设备内并且与所述测试腔室相连通的湿度调节源，与所述辐照源、温度调节源和湿度调节源相连接的控制器，所述控制器包括处理器和存储编程指令的存储器，当由该处理器执行该指令时，引起所述控制器运行从而操作所述辐照源、温度调节源和湿度调节源，所述方法包括：记录多变量微环境循环的工作参数；将试样暴露于依据所述工作参数的所述测试腔室内的多变量微环境循环；监测试样于所述测试腔室内的所述多变量微环境循环的暴露以产生运行时变量；以及调整所述编程指令从而使所述运行时变量和所述工作参数一致。
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