[发明专利]用于直线滚动导轨副的实验平台无效
申请号: | 201110109545.2 | 申请日: | 2011-04-28 |
公开(公告)号: | CN102262025A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
发明(设计)人: | 关立文;李金峰 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N3/40 | 分类号: | G01N3/40;G01B7/02;G01J5/00;G01M13/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 黄德海 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于直线滚动导轨副的实验平台,包括:基座(1);直线滚动导轨(2)以及滑块(3),其中所述基座(1)设置有用于测量所述直线滚动导轨副的静态刚度的静态刚度测量组件、用于测量所述直线滚动导轨副的静态转动刚度的转动刚度测量组件、用于测量所述直线滚动导轨副动态特性测量组件和用于测量所述直线滚动导轨副的热态特性测量组件中的一个。由此,利用该实验平台,可以对多种规格和预压的直线滚动导轨副进行试验、可重构性强。此外,在同一装置上实现了直线滚动导轨副的静态、动态和热态特性参数的测量,效率高且使用方便。 | ||
搜索关键词: | 用于 直线 滚动 导轨 实验 平台 | ||
【主权项】:
一种用于直线滚动导轨副的实验平台,其特征在于,包括:基座(1),所述基座(1)上形成有多排安装孔,所述安装孔沿着所述基座(1)的纵向设置,用于可拆卸地安装至少一个直线滚动导轨副,所述直线滚动导轨副包括:直线滚动导轨(2),所述直线滚动导轨通过所述安装孔安装在所述基座(1)上;以及滑块(3),所述滑块(3)设置在所述直线滚动导轨(2)上且沿着所述直线滚动导轨(2)可往复滑动;其中所述基座(1)设置有用于测量所述直线滚动导轨副的静态刚度的静态刚度测量组件、用于测量所述直线滚动导轨副的静态转动刚度的转动刚度测量组件、用于测量所述直线滚动导轨副动态特性测量组件和用于测量所述直线滚动导轨副的热态特性测量组件中的一个。
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