[发明专利]一种数据处理方法和装置有效
| 申请号： | 201110111943.8 | 申请日： | 2011-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN102768687A | 公开（公告）日： | 2012-11-07 |
| 发明（设计）人： | 刘若鹏;刘斌;季春霖;王睿 | 申请（专利权）人： | 深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种数据处理方法，该方法通过获取训练样本，并初始化狄里克雷过程和高斯过程，该训练样本包括单元结构几何参数及对应的电磁响应曲线三次样条系数，根据训练样本，获取高斯过程参数的最大后验似然值对应的最大高斯过程参数和该最大高斯过程参数对应的区域划分，再根据最大高斯参数和最大高斯过程参数对应的区域划分，拟合单元结构几何参数及对应的电磁响应曲线三次样条系数的映射关系，在具体运用时，只要已知单元结构几何参数，就可以估计出非常接近的电磁响应曲线三次样条系数，从而可知对应的电磁响应曲线。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数据处理 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种数据处理方法，其特征在于，包括：获取训练样本，并初始化狄里克雷过程和高斯过程，所述训练样本包括单元结构几何参数及对应的电磁响应曲线三次样条系数；根据所述训练样本，获取高斯过程参数的最大后验似然值对应的最大高斯过程参数和所述最大高斯过程参数对应的区域划分；根据所述最大高斯过程参数和区域划分，拟合单元结构几何参数及对应的电磁响应曲线三次样条系数的映射关系；根据外部输入的单元结构几何参数和所述映射关系，获取所述外部输入的单元结构几何参数对应的电磁响应曲线三次样条系数。
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