[发明专利]红外辐射计校准装置及其校准方法无效

专利信息
申请号: 201110112097.1 申请日: 2011-05-03
公开(公告)号: CN102155994A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 岳文龙;闫晓宇;王学新;谢毅;李旭东;李燕;付建明 申请(专利权)人: 中国兵器工业第二〇五研究所
主分类号: G01J5/10 分类号: G01J5/10
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 赵振红
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种红外辐射计校准装置及其校准方法,属红外计量领域。该装置由红外标准辐射源、红外光学准直系统和多个标准探测器及计算机组成,红外光学准直系统采用平面反射镜和离轴抛物面反射镜构成。红外标准辐射源发射的红外辐射直接或通过红外光学准直系统准直后由被校红外辐射或标准探测器计接收并相应获得被校红外辐射计或标准探测器的测量电压,遮挡红外标准辐射源,使被校红外辐射计或标准探测器直接或通过红外光学准直系统接收背景辐射并相应获得被校红外辐射计或标准探测器的背景电压,进而计算出红外辐射计的辐照度响应度曲线。本发明不仅解决了大视场红外辐射计的响应度校准问题,而且校准精度高。
搜索关键词: 红外 辐射计 校准 装置 及其 方法
【主权项】:
一种红外辐射计校准装置,包括红外标准辐射源、红外光学准直系统,红外标准辐射源包括标准黑体辐射源(6)、调制器(3)和精密光阑(4),其特征在于:还包括信号接收系统和计算机(14),所述红外标准辐射源置于精密转台(5)上,其中,精密光阑(4)带有集成在一个光阑盘上多个孔径不同的光阑片;红外光学准直系统含有平面反射镜(2)和离轴抛物面反射镜(1),且均由各自对应的四维微调支架置于光学平台(13)上;所述信号接收系统包括具有不同探测范围并溯源至低温辐射计的多个标准探测器(8或9或10),各标准探测器通过相应的可升降底座固定在两维可调平移台(7)上;被校红外辐射计根据测量需要,置于所述红外准直光学系统输出端处的第一测量位置(11)或与可控精密转台(5)正对的第二测量位置(12);所述标准黑体辐射源(6)发射出的红外辐射照射到所述精密光阑(4)上,来自于被选光阑片的红外光束经所述调制器(3)调制后,由红外光学准直系统准直成平形光进入被校红外辐射计或直接进入被校红外辐射计,标准探测器(8或9或10)通过两维可调平移台(7)的移动进入第一测量位置(11)或第二测量位置(12),并通过红外光学准直系统接收或直接接收来自被选光阑片的红外光束;所述计算机(14)控制所述精密转台(5)的角位移,采集对应标准探测器(8或9或10)的输出,根据被校红外辐射计的输出数组计算被校红外辐射计的辐照度响应度曲线RE并在屏幕上显示。
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