[发明专利]X射线断层摄影检查系统有效

专利信息
申请号: 201110114529.2 申请日: 2006-12-15
公开(公告)号: CN102269826A 公开(公告)日: 2011-12-07
发明(设计)人: E·J·默通 申请(专利权)人: CXR有限公司
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00;B07C5/342
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李玲
地址: 英国赫*** 国省代码: 英国;GB
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及X射线断层摄影检查系统。一种用于检查物品的X射线成像检查系统,包括X射线源(10),该X射线源在成像体积(16)周围延伸并限定可从中引导X射线穿过成像体积的多个源点(14)。X射线检测器阵列(12)也在成像体积(16)周围延伸,并被配置为检测穿过成像体积的来自源点的X射线,并产生依赖于检测到的X射线的输出信号。传输器(20)被配置为传输物品以使其穿过成像体积(16)。
搜索关键词: 射线 断层 摄影 检查 系统
【主权项】:
一种X射线扫描系统,所述X射线扫描系统包括:(a)扫描仪,所述扫描仪包含:(i)X射线源,所述X射线源具有以基本圆形的配置在扫描体积的周围间隔开的多个X射线源单元,X射线源单元中的每一个具有两个不同材料的目标区且被配置为产生两种不同能量频谱的X射线,和(ii)检测器,所述检测器被配置为检测来自多个目标区中的每一个的X射线以产生两个相应的扫描仪输出,和(b)处理装置,所述处理装置被配置为:(i)处理来自检测器的信号,包括组合两个相应的扫描仪输出,以产生多个断层摄影图像数据组,以及(ii)对所述断层摄影图像数据组进行组合以产生物体的三维图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于CXR有限公司,未经CXR有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110114529.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top