[发明专利]双异质结双极晶体管结构无效

专利信息
申请号: 201110123487.9 申请日: 2011-05-13
公开(公告)号: CN102779846A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 孙浩;孙晓玮;艾立鹍;滕腾;王伟;李凌云;钱蓉;徐安怀;齐鸣 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L29/737 分类号: H01L29/737;H01L29/08;H01L29/205
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种双异质结双极晶体管结构,其依序包括:包含磷与铟的化合物构成的集电区层、基区层、及包含磷与铟的化合物半导体构成的发射区层,其中,所述基区层的材料包含多种都由铟、镓、砷及锑所组成的化合物,且每一种化合物包含的铟、镓、砷及锑组份与其他种化合物所包含的铟、镓、砷及锑都不相同,且每一种化合物中铟的组份与镓的组份比为∶(1-),砷的组份与锑的组份比为∶(1-),且所述基区层的能带结构从发射结处到集电结处由宽变窄,其中,。该双异质结双极晶体管结构可以在降低发射结导带势垒、缓解阻挡电子注入问题的同时,在基区形成从发射结到集电结的内建电势差,有效减小电子在基区的渡越时间,有利于提高器件的频率特性。
搜索关键词: 双异质结 双极晶体管 结构
【主权项】:
一种双异质结双极晶体管结构,其依序包括:包含磷与铟的化合物构成的集电区层、基区层、及包含磷与铟的化合物半导体构成的发射区层,其特征在于:所述基区层的材料包含多种都由铟、镓、砷及锑所组成的化合物,且每一种化合物包含的铟、镓、砷及锑组份与其他种化合物所包含的铟、镓、砷及锑都不相同,且每一种化合物中铟的组份与镓的组份比为x∶(1‑x),砷的组份与锑的组份比为y∶(1‑y),且所述基区层的能带结构从发射结处到集电结处由宽变窄,其中, x ( 0,1 ) , y ( 0,1 ) .
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