[发明专利]表面处理方法以及表面处理装置无效
申请号: | 201110127811.4 | 申请日: | 2011-05-12 |
公开(公告)号: | CN102263012A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
发明(设计)人: | 丰田纪章;山田公;成岛正树;原岛正幸;森崎英介 | 申请(专利权)人: | 兵库县;东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/00 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 柳春雷 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及表面处理方法以及表面处理装置。所述表面处理方法可提高基板等的表面的平坦性。一种表面处理方法,其特征在于,包括以下工序:第一处理工序,产生不包含氮的原料的气体团簇离子束,并将其照射到被处理部件;以及第二处理工序,产生氮的气体团簇离子束,并将其照射到所述被处理部件。通过上述表面处理方法,可解决上述问题。 | ||
搜索关键词: | 表面 处理 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
一种表面处理方法,其特征在于,包括以下工序:第一处理工序,产生不包含氮的原料的气体团簇离子束,并将其照射到被处理部件;以及第二处理工序,产生氮的气体团簇离子束,并将其照射到所述被处理部件。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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