[发明专利]一种提高单晶铜键合丝封装性能的制备工艺无效

专利信息
申请号: 201110132163.1 申请日: 2011-05-22
公开(公告)号: CN102280389A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 赵剑青;杨东鲁;黄浩;赖志伟;钟丁通 申请(专利权)人: 迈士通集团有限公司
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48;H01L23/00;C22F1/08
代理公司: 厦门原创专利事务所 35101 代理人: 高巍
地址: 361015 福*** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种提高单晶铜键合丝封装性能的制备工艺,其步骤是:1)将单晶铜杆通过若干道拉丝工序后形成细小的单晶铜键合丝;2)将经过乙醇超声洗涤的单晶铜键合丝作退火软化加工处理;3)在退火管后设置乙醇冷却槽,将退火后的单晶铜键合丝作乙醇急速冷却处理;4)将经过乙醇冷却槽急冷的单晶铜键合丝以红外干燥装置烘干;5)将干燥后的单晶铜键合丝经复绕分卷及真空包装后得到单晶铜键合丝产品。按照本发明生产的单晶铜键合丝能大大提高产品的抗氧化性能,并保证其性质均一、表面清洁干燥,有效提高单晶铜键合丝产品的封装性能,本方法生产工艺过程简单,操作简便。
搜索关键词: 一种 提高 单晶铜键合丝 封装 性能 制备 工艺
【主权项】:
一种提高单晶铜键合丝封装性能的制备工艺,其步骤为:将单晶铜杆通过拉丝工序后形成直径为0.01mm~0.5mm的细小单晶铜键合丝;将经过乙醇超声波清洗器洗涤后的单晶铜键合丝作退火软化加工处理,以使单晶铜键合丝获得较高的破断力和延伸率;将退火后的单晶铜键合丝穿过乙醇冷却槽作急速冷却处理,防止单晶铜键合丝在高温下与空气中的氧气发生氧化反应,减少单晶铜键合丝表面氧化膜的生成,提高单晶铜键合丝的封装性能;将通过乙醇冷却槽急速冷却后的单晶铜键合丝进行干燥处理;将干燥后的单晶铜键合丝复绕分卷及真空包装。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于迈士通集团有限公司,未经迈士通集团有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110132163.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top