[发明专利]解像力测试装置及其方法有效

专利信息
申请号: 201110132488.X 申请日: 2011-05-20
公开(公告)号: CN102759440A 公开(公告)日: 2012-10-31
发明(设计)人: 张谷年;陈文君 申请(专利权)人: 华晶科技股份有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种解像力测试装置及其方法。此解像力测试方法,适用于测试摄像装置,包括提供一图像,并使摄像装置拍摄此图像成测试影像,接着获取此测试影像,利用分析窗口从此测试影像上的定点区块往第一方向移动一特定距离至此测试影像上的第一区块,分析此第一区块,产生第一高通分量,移动分析窗口回到定点区块,分析窗口从定点区块往第二方向移动特定距离至此测试影像上的第二区块,分析此第二区块,产生第二高通分量。根据第一高通分量及第二高通分量产生第三高通分量,并根据此第三高通分量定义摄像装置的解像力。本发明具有高稳定度及高精确度。
搜索关键词: 解像力 测试 装置 及其 方法
【主权项】:
一种解像力测试装置,适用于测试一摄像装置的解像力,该解像力测试装置包括:一测试模组,用以提供一图像,并使该摄像装置拍摄该图像成一测试影像;以及一分析模组,耦接至该摄像装置,获取该摄像装置拍摄的该测试影像,该分析模组的一分析窗口从该测试影像上的一定点区块往第一方向移动一特定距离至该测试影像上的一第一区块,分析该第一区块,产生一第一高通分量,该分析窗口回到该定点区块,该分析窗口从该定点区块往第二方向移动该特定距离至该测试影像上的一第二区块,分析该第二区块,产生一第二高通分量,根据该第一高通分量及该第二高通分量产生一第三高通分量,根据该第三高通分量定义该摄像装置的解像力。
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