[发明专利]晶圆端面清洗方法无效
申请号: | 201110133161.4 | 申请日: | 2011-05-23 |
公开(公告)号: | CN102214553A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 叶伟清 | 申请(专利权)人: | 叶伟清 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;B08B3/00;B08B3/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201600 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种半导体晶圆的端面清洗方法。相对浸泡清洗方法,本发明不需要使用大量化学药剂将晶圆整体浸入以去除污染物,而是创造性地提出以清洗夹具狭缝中依靠表面张力附着药剂液滴对晶圆端面进行清洗。每次清洗过程仅仅需要微升级的清洗液,大大地减少了清洗液用量,减低了清洗成本,极大地减少了清洗工艺过程中废液的排放量。 | ||
搜索关键词: | 端面 清洗 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体晶圆端面清洗方法,其特征在于采用如下步骤:(1)机械手把晶圆放置于上下方向移动自如的升降器上;升降器下降,把晶圆设置于回转自如的支承晶圆的盘体上;同心调整机构把晶圆圆心对准盘体圆心;晶圆旋转并带动固定在盘体下侧的三个转轮一起转动;同心调整机构使晶圆保持水平、同心转动;(2)清洗夹具输出清洗药剂,对晶圆端面进行清洗;(3)晶圆端面用清洗药剂清洗完毕后,将药剂回收并切换成纯水输出,对晶圆端面再做一次清洗。所述清洗夹具的结构为侧面具有一个狭缝,内部具有液体输出管道和液体回收管道,其中液体输出管道用于输出新鲜清洗药液或纯水,液体回收管道用于回收清洗后废液;使用时通过调整清洗夹具狭缝和晶圆端面距离,使晶圆旋转时只有晶圆端面与清洗夹具侧面狭缝中的清洗药剂液滴接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于叶伟清,未经叶伟清许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110133161.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:伺服压铸机用压射系统
- 下一篇:一种铸造缸盖的装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造