[发明专利]一种基于邻区测量的邻区优化方法有效

专利信息
申请号: 201110140223.4 申请日: 2011-05-27
公开(公告)号: CN102209336A 公开(公告)日: 2011-10-05
发明(设计)人: 朱延欣;缪炎;宋永清;常青 申请(专利权)人: 北京拓明科技有限公司
主分类号: H04W24/02 分类号: H04W24/02;H04W24/10
代理公司: 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 代理人: 田明;任晓航
地址: 100011 北京市西城*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于邻区测量的邻区优化方法,该方法首先查询现网小区数据库,提取邻区测量结果;然后通过查看所提取的邻区测量结果的类型,并根据邻区测量的类型进行相应的处理:对于定义邻区测量结果,则确定被测邻区是否为定义邻区,若否则将该被测邻区从邻区列表中删除;对于非定义邻区测量结果,则确定被测邻区是否为非定义邻区,若否则将该被测邻区补加到邻区列表中。通过本发明所述方法能够使优化人员明确合理地增加或者减少相邻关系,提高了小区切换成功率和用户满意度。
搜索关键词: 一种 基于 测量 优化 方法
【主权项】:
一种基于邻区测量的邻区优化方法,包括以下步骤:(1)查询现网小区数据库,提取邻区测量结果;所述数据库是指诺基亚操作支持系统话务统计数据库;(2)查看所提取的各邻区测量结果的类型,若是定义邻区测量结果,则进入步骤(3);若是非定义邻区测量结果,则进入步骤(4);(3)确定被测邻区是否为定义邻区,若否则将该被测邻区从邻区列表中删除;确认的具体步骤如下:(3‑1)计算被测邻区的加权电平值SS_ADJ_P,计算公式为:SS_ADJ_P=[(SS_SERV‑DB1)×CLASS_1+SS_SERV×CLASS_2+(SS_SERV‑DB2)×CLASS_3]/(CLASS_1+CLASS_2+CLASS_3);其中,SS_SERV表示主服务小区的电平,CLASS_1、CLASS_2与CLASS_3分别表示主服务小区与被测邻区下行平均电平强度之差低于DB1时的采样点数、强度之差介于DB1和DB2之间的采样点数与强度之差高于DB2时的采样点数,DB1与DB2为系统给定的两个载干比值;(3‑2)比较被测邻区的加权电平值SS_ADJ_P与被测邻区的下行平均电平值SS_ADJ,查看差值的绝对值是否大于设定值,若否则取SS_ADJ_P与SS_ADJ的均值作为该被测邻区的最终电平强度值;若是则查看被测邻区是否存在硬件故障或无线参数不合理,若是则排除故障或调整参数后,返回步骤(3‑1),若否则取SS_ADJ_P与SS_ADJ的均值作为该被测邻区的最终电平强度值;(3‑3)查看最终电平强度值是否小于设定的阈值,若否则确定该被测邻区为定义邻区;若是则查看该被测邻区的采样点数在所有被测邻区的总体采样点数之和中所占比例是否小于设定的占比值,若是则确定该被测邻区为定义邻区,若否则确定该被测邻区为非定义邻区,将其从邻区列表中删除;(4)确定被测邻区是否为非定义邻区,若否则将该被测邻区补加到邻区列表中;确认的具体步骤如下:查看被测邻区的下行平均电平值SS_NADJ是否大于设定的阈值,若否则确定该被测邻区为非定义邻区;若是则查看该被测邻区的采样点数在所有被测邻区的总体采样点数之和中所占比例是否大于设定的占比值,若否则其确定该被测邻区为非定义邻区,若是则执行步骤(3‑1)~(3‑3)。
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