[发明专利]AlGaN极化紫外光电探测器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110140930.3 申请日: 2011-05-28
公开(公告)号: CN102214705A 公开(公告)日: 2011-10-12
发明(设计)人: 郝跃;张伟;毛维;马红 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L31/0304 分类号: H01L31/0304;H01L31/0224;H01L31/18
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开一种基于AlGaN材料的紫外光电探测器结构及其制作方法,主要解决现有技术对P型掺杂材料的依赖,该探测器自下而上包括:衬底(1)、过渡层(2)、GaN缓冲层(3)、铝组分渐变AlGaN层(4)和有源区(5),铝组分渐变AlGaN层(4)分为上、下两层,下层厚度为20~30nm,铝组分从0%增加到80%~100%,上层厚度为10~20nm,铝组分为0%~80%;铝组分渐变AlGaN层(4)左上方被有源区(5)覆盖,右上方淀积有底部欧姆接触(7),该欧姆接触与有源区之间设有间隙(8);有源区(5)由铝组分为0%~80%的AlGaN材料构成,厚度为50~100nm,有源区表面淀积有表面欧姆接触电极(6)。本发明自动工作在光伏模式,高频特性好,暗电流小,可用于226~363nm紫外波段的光信号探测。
搜索关键词: algan 极化 紫外 光电 探测器 及其 制作方法
【主权项】:
一种AlGaN极化紫外光电探测器,自下而上包括:衬底(1),过渡层(2)和GaN缓冲层(3),其特征在于:GaN缓冲层(3)的上面外延有铝组分渐变AlGaN层(4);铝组分渐变AlGaN层(4)的左上方被有源区(5)所覆盖,未覆盖部分淀积有底部欧姆接触(7),该欧姆接触(7)与有源区(5)之间设有间隙(8);有源区(5)之上淀积有表面欧姆接触电极(6)。
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