[发明专利]AlGaN极化紫外光电探测器及其制作方法有效
申请号: | 201110140930.3 | 申请日: | 2011-05-28 |
公开(公告)号: | CN102214705A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 郝跃;张伟;毛维;马红 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304;H01L31/0224;H01L31/18 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开一种基于AlGaN材料的紫外光电探测器结构及其制作方法,主要解决现有技术对P型掺杂材料的依赖,该探测器自下而上包括:衬底(1)、过渡层(2)、GaN缓冲层(3)、铝组分渐变AlGaN层(4)和有源区(5),铝组分渐变AlGaN层(4)分为上、下两层,下层厚度为20~30nm,铝组分从0%增加到80%~100%,上层厚度为10~20nm,铝组分为0%~80%;铝组分渐变AlGaN层(4)左上方被有源区(5)覆盖,右上方淀积有底部欧姆接触(7),该欧姆接触与有源区之间设有间隙(8);有源区(5)由铝组分为0%~80%的AlGaN材料构成,厚度为50~100nm,有源区表面淀积有表面欧姆接触电极(6)。本发明自动工作在光伏模式,高频特性好,暗电流小,可用于226~363nm紫外波段的光信号探测。 | ||
搜索关键词: | algan 极化 紫外 光电 探测器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种AlGaN极化紫外光电探测器,自下而上包括:衬底(1),过渡层(2)和GaN缓冲层(3),其特征在于:GaN缓冲层(3)的上面外延有铝组分渐变AlGaN层(4);铝组分渐变AlGaN层(4)的左上方被有源区(5)所覆盖,未覆盖部分淀积有底部欧姆接触(7),该欧姆接触(7)与有源区(5)之间设有间隙(8);有源区(5)之上淀积有表面欧姆接触电极(6)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的