[发明专利]一种综合目测、ICC标准和自定义标准的数码打样质量评估方法无效
| 申请号： | 201110143266.8 | 申请日： | 2011-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN102307273A | 公开（公告）日： | 2012-01-04 |
| 发明（设计）人： | 易尧华 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | H04N1/54 | 分类号： | H04N1/54 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 张火春 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种数码打样质量评估方法，尤其是涉及一种综合目测、ICC标准和自定义标准的数码打样质量评估方法。本发明采用所有色块平均色差、所有色块最大色差、青色实地色差、品红实地色差、黄色实地色差、黑色实地色差、纸张白色色差、灰度平均色差、灰度最大色差、95%色块色差峰值这些参数作为色差评价标准；因此，本发明具有如下优点：综合主观评价法和客观评价法，并提供选择ICC标准和自定义标准以及向标准测控条中添加自定义色块，能够更加快速、精确、全面的评估数码打样质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 综合 目测 icc 标准 自定义 数码 打样 质量 评估 方法 | ||
【主权项】：
一种综合目测、ICC标准和自定义标准的数码打样质量评估方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，制作数码打样测控条；步骤2，设置数码打样质量评价标准参数，包括色块平均色差、所有色块最大色差、青色实地色差、品红实地色差、黄色实地色差、黑色实地色差、纸张白色色差、灰度平均色差、灰度最大色差、95%色块色差峰值；步骤3，以添加测控条的形式进行数码打样；步骤4，对数码打样样张进行目测，若符合步骤2的评价标准参数，则进行色差评价，否则检查错误并重复步骤3；步骤5，对完成步骤4的数码打样样张进行色差评价，用数据并输出评测数据。
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