[发明专利]一种光刻机平衡质量系统有效

专利信息
申请号: 201110145391.2 申请日: 2011-05-31
公开(公告)号: CN102809902A 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 夏海;陈庆生 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种光刻机平衡质量系统,该系统包括基础框架、大理石平台、微动台、平衡质量块以及反力矩缓冲机构;所述大理石平台固定于所述基础框架上;所述微动台通过垂向气浮垫支撑于所述大理石平台上,且沿X方向及Y方向相对于所述大理石平台运动;所述平衡质量块通过垂向气浮垫与所述基础框架相连,所述垂向气浮垫固定于所述基础框架上,且所述平衡质量块的运动情况与所述微动台的运动情况相反;所述反力矩缓冲机构与所述基础框架及所述平衡质量块相连,用于消除所述平衡质量块运动过程中因重心偏移产生的力矩,并且衰减所述平衡质量块向所述基础框架传递的振动;从而可提高光刻机系统的性能。
搜索关键词: 一种 光刻 平衡 质量 系统
【主权项】:
一种光刻机平衡质量系统,其特征在于,包括:基础框架;大理石平台,固定于所述基础框架上;微动台,通过第一垂向气浮垫支撑于所述大理石平台上,且沿X方向及Y方向相对于所述大理石平台运动;平衡质量块,通过第二垂向气浮垫与所述基础框架相连,所述第二垂向气浮垫固定于所述基础框架上,且所述平衡质量块的运动情况与所述微动台的运动情况相反;以及反力矩缓冲机构,与所述基础框架及所述平衡质量块相连,用于消除所述平衡质量块运动过程中因重心偏移产生的力矩,并且衰减所述平衡质量块向所述基础框架传递的振动。
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