[发明专利]基于光纤耦合的颗粒检测装置和检测方法

摘要

本发明公开了一种基于光纤耦合的颗粒粒度的测量装置和检测方法，其构成包括：高稳定多波长光源、输入光纤、第一高精度电控光学调整台、CCD成像系统、第二高精度电控光学调整台、输出光纤、高精度探测器和计算机，本发明利用计算机控制高精度光学调整台，将连接光源的输入光纤和连接功率计的输出光纤二者的端面控制并锁定在一个100μm的间距内，滴入待测溶液形成样品池结构，然后利用多波长扫描，结合洛伦兹模型改进传统的MIE理论；提出多变量遗传算法实现实时的在线检测。本发明装置具有体积小、便于移动，无需事先对待测液进行折射率测定，不需要外接独立大功率激光光源，消除了样品池的反射和散射，能实时在线颗粒检测。

主权项

一种基于光纤耦合的颗粒检测装置，特征在于其构成包括：高稳定多波长光源(1)、输入光纤(2)、第一高精度电控光学调整台(3)、CCD成像系统(4)、第二高精度电控光学调整台(5)、输出光纤(6)、高精度探测器(7)和计算机(8)，所述的输入光纤(2)的一端与所述的高稳定多波长光源(1)的输出端相连，所述的输出光纤(6)的一端与所述的高精度探测器(7)的输入端相连，所述的输入光纤(2)的另一端固定在所述的第一高精度电控光学调整台(3)上并延伸出台外，称为自由端，所述的输出光纤(6)的另一端固定在所述的第二高精度电控光学调整台(5)上并延伸出台外，称为自由端，所述的输入光纤(2)的自由端和输出光纤(6)的自由端相向相对并位于所述的CCD成像系统(4)的摄像区域，所述的计算机(8)分别与所述的高稳定多波长光源(1)、第一高精度电控光学调整台(3)、CCD成像系统(4)、第二高精度电控光学调整台(5)和高精度探测器(7)相连。