[发明专利]光拾取器装置无效
| 申请号： | 201110148543.4 | 申请日： | 2011-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN102280117A | 公开（公告）日： | 2011-12-14 |
| 发明（设计）人： | 木村茂治 | 申请（专利权）人： | 日立视听媒体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09;G11B7/135 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 张敬强;李家浩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种光拾取器装置，通过消除多层串扰，使跟踪信号、聚焦信号稳定化。通过使来自设置于来自该层的反射光的回路上的多区域衍射光栅的中心区域的衍射光在半导体检测器上的衍射位置比来自衍射光栅周边部分的衍射光的衍射位置更远离光轴，使来自其他层的杂散光不会入射到来自衍射光栅的周边部区域的感光度区域。另外，通过分割中心区域，减小半导体检测器的面积。 | ||
| 搜索关键词： | 拾取 装置 | ||
【主权项】：
一种光拾取器装置，其特征在于，具有：激光光源；使来自激光光源的激光在多层光信息存储媒体中选择的一个记录层上聚光的照射光聚光光学系统；以及检测从上述多层光信息存储媒体中的上述选择的记录层反射的反射光的检测光学系统，上述检测光学系统具有：检测透镜；具有多个感光度区域的半导体检测器；以及位于上述检测透镜和上述半导体检测器之间且被分割为多个区域的多区域衍射光栅，来自上述多区域衍射光栅的多个区域中包括光轴的中心区域的衍射光在上述半导体检测器上的照射位置比来自其他分割区域的衍射光在上述半导体检测器上的照射位置更远离上述光轴。
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