[发明专利]脉冲红外热波技术测厚方法有效
申请号: | 201110154204.7 | 申请日: | 2011-06-09 |
公开(公告)号: | CN102221339A | 公开(公告)日: | 2011-10-19 |
发明(设计)人: | 曾智;王迅;陶宁;冯立春;张存林 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学;北京维泰凯信新技术有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01B11/22 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨;雷电 |
地址: | 100037 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种脉冲红外热波技术测厚度或缺陷深度的方法,包括如下步骤:(1)使用脉冲加热设备对被测物体进行加热,同时使用红外热像装置获得被测物体表面的热图序列,并将热图序列存储在通用存储器中;(2)对热图序列中每个点的温度时间曲线乘上对应时间的从而获得新的曲线f;(3)对f求一阶微分,并获得其峰值时间tapst;(4)由公式则求出L,其中α为热扩散系数,L为被测物体厚度或缺陷深度。本发明通过上述技术方案,可以测量出被测件厚度或缺陷深度,不需要参考曲线,且仅需进行一次微分处理即可,处理方法更为简单。 | ||
搜索关键词: | 脉冲 红外 技术 方法 | ||
【主权项】:
1.一种脉冲红外热波技术测厚方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)使用脉冲加热设备对被测物体进行加热,同时使用红外热像装置获得被测物体表面的热图序列,并将热图序列存储在通用存储器中;(2)对热图序列中每个点的温度时间曲线乘上对应时间的从而获得新的曲线f;(3)对f求一阶微分得到f’,并获得f’的峰值时间tapst;(4)由公式则求出L,其中α为热扩散系数,L为被测物体厚度或缺陷深度。
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