[发明专利]一种在砷化镓基片上外延生长钛酸锶薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 201110155246.2 申请日: 2011-06-10
公开(公告)号: CN102181833A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 黄文;郝建华;吴真平;林媛;曾慧中;张胤;杜辉;刘升华 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: C23C14/28 分类号: C23C14/28
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 周永宏
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种在砷化镓基片上外延生长钛酸锶薄膜的方法。包括如下步骤:步骤1:对GaAs基片做表面处理形成原子级平整的Ga原子为终结面的清洁表面;步骤2:将步骤1处理后的GaAs基片和STO靶材送入并固定在激光分子束外延设备的真空腔体中;步骤3:对步骤2中固定好的GaAs基片加热到550℃-600℃之间;步骤4:用激光束蒸发步骤2中固定好的STO靶材,使STO在GaAs基片上沉积,沉积过程中用反射高能电子衍射监测薄膜生长过程,当衍射花样出现典型STO的衍射条纹可得到STO外延薄膜。本发明的有益效果:由于本方法中将GaAs基片做表面处理形成原子级平整的Ga原子为终结面的清洁表面,克服了在GaAs基片二元化合物上生长介电氧化物薄膜的困难。
搜索关键词: 一种 砷化镓基片上 外延 生长 钛酸锶 薄膜 方法
【主权项】:
一种在砷化镓基片上外延生长钛酸锶薄膜的方法,包括如下步骤:步骤1:对GaAs基片做表面处理形成原子级平整的Ga原子为终结面的清洁表面;步骤2:将步骤1处理后的GaAs基片和STO靶材送入并固定在激光分子束外延设备的真空腔体中;步骤3:对步骤2中固定好的GaAs基片加热到550℃‑600℃之间。步骤4:用激光束蒸发步骤2中固定好的STO靶材,使STO在GaAs基片上沉积,沉积过程中用反射高能电子衍射监测薄膜生长过程,当衍射花样出现典型STO的衍射条纹可得到STO外延薄膜。
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