[发明专利]铌酸锂波导相位调制器多模截止波长的无损测定方法无效
| 申请号： | 201110157249.X | 申请日： | 2011-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN102353461A | 公开（公告）日： | 2012-02-15 |
| 发明（设计）人： | 陈抱雪;傅长松;隋国荣 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种铌酸锂波导相位调制器多模截止波长的无损测定方法，利用测定铌酸锂波导相位调制器插入损耗的特征变动来确定多模截止波长的方法，该方法依据了铌酸锂波导相位调制器的模式耦合原理，不仅器件无须拆开，而且模式耦合除了涉及模场分布以外还涉及位相行为，从机制上提供了更高的灵敏度。为光陀螺技术系统涉及的器件甄别和波长带宽确定提供了具有可操作性的实测手段。 | ||
| 搜索关键词： | 铌酸锂 波导 相位 调制器 截止 波长 无损 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种铌酸锂波导相位调制器多模截止波长的无损测定方法，其特征在于，测试光从铌酸锂波导相位调制器分叉波导连接的光纤的任意一端输入，从铌酸锂波导相位调制器直波导连接的光纤输出，测试光波的波长范围在1211～1451nm，以0.6nm间隔逐次减小测试光波的波长，记录与所述测试过程中出现的插入损耗的第一个振荡谷点对应的测试光波的波长![]()
、以及与所述振荡谷点的谷半宽对应的测试光波的变动量![]()
，得到铌酸锂波导相位调制器的多模截止波长为![]()
。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学，未经上海理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110157249.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
