[发明专利]线阵CCD像元响应不一致性校正方法

摘要

线阵CCD像元响应不一致性校正方法，根据CCD器件的特点，在正确计算出暗电流噪声的基础上，对现有的两点平面场校正方法进行了改进，根据像元响应不一致性的形成机理，将不一致性校正方法分为暗电流噪声及其不一致性校正和光电响应不一致性校正两个独立的部分，并引入了数字增益校正，最终实现了线阵CCD像元响应不一致性校正。本发明方法克服了两点校正方法在CCD部分饱和时暗像元的值无法正确反映当前暗电流噪声的缺点，可以广泛应用于目前的成像设备中，具有易实现、精度高的特点，能够消除暗电流噪声和像元响应不一致性噪声引起的图像退化，提高探测器的成像性能。

主权项

1.线阵CCD像元响应不一致性校正方法，其特征在于：采用公式s_i＝k_i(y_i-(b_i×DC+c_i×g))对CCD的像元响应不一致性进行校正，然后采用公式p_i＝k×s_i对校正结果进行数字增益调整，其中p_i为数字增益调整后的结果，k为增益系数，n为A/D转换芯片的位数，max(DC)为实测的暗电流噪声最大值，y_i为输入的非均匀图像，k_i为光电响应不一致性校正系数，b_i和c_i为暗电流噪声及其不一致性校正系数，DC为暗电流噪声的大小，g为A/D转换芯片的增益值，DC根据当前CCD的工作状态，采用迭代的方法求取，当|m_dc-DC_j-1|＞T_dc且m_cr＞T_cr时，DC_j＝DC_j-1当m_dc-DC_j-1＞T_dc且m_cr＜T_cr时，DC_j＝DC_j-1+T_dc当DC_j-1-m_dc＞T_dc且m_cr＜T_cr时，DC_j＝DC_j-1-T_dc其他情况下，DC_j＝αDC_j-1+(1-α)m_dc。式中为暗像元的均值，d_jn代表暗像元的输出信号，N表示暗像元的个数，DC_j和DC_j-1分别表示当前行和上一行的暗电流噪声大小，DC_j的初值DC₁为α为由CCD中随机噪声的大小决定的权值，T_dc为用于判断暗像元是否突变的阈值，m_cr为转移完所有有效像元后从水平转移寄存器中额外读取的像元的均值，T_cr为用于判断是否存在饱和像元的判断阈值。