[发明专利]芯片验证测试用例的管理方法有效
| 申请号： | 201110159449.9 | 申请日： | 2011-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN102331967A | 公开（公告）日： | 2012-01-25 |
| 发明（设计）人： | 柏帆;袁博浒 | 申请（专利权）人： | 烽火通信科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 | 代理人： | 魏殿绅;庞炳良 |
| 地址： | 430074 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片验证测试用例的管理方法，通过直接读取项目计划阶段完成的测试用例列表，采用DOM分析方法生成树状结构数据，并将测试用例列表文件中每个测试用例导入测试平台中直接生成测试用例；测试结束后，直接将测试结果反标回测试用例列表，大大提高了芯片验证工作的效率，减少了人力成本，并能有效地保证验证工作的完备性，提高芯片验证质量。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 测试 管理 方法 | ||
【主权项】：
芯片验证测试用例的管理方法，其特征在于包括测试用例导入以及反标输出两个步骤，所述测试用例导入包括以下步骤：A101、读取项目计划阶段完成的测试用例列表并转化为标准XML文件，所述测试用例列表至少包含测试组、测试点和测试用例名称；A102、采用DOM分析方法将步骤A101得到的标准XML文件生成树状结构数据，并将此树状结构数据作为测试用例列表导入测试系统平台；A103、根据上述树状结构数据，在测试系统平台上生成对应的空测试用例结构，并将测试用例列表文件中每个测试用例中的测试组、测试点和测试用例名称导入；A104、在测试平台中手工配置测试用例；A105、利用EDA工具进行测试用例仿真；所述测试用例反标输出包括以下步骤：A201、根据测试用例仿真的结果获得测试用例的运行情况和测试结果的文本文件；A202、将测试用例完成情况和测试结果文本文件生成树状结构数据并保存在系统内存中；A203、采用DOM分析方法，将测试用例完成情况测试结果文本文件转化为XML格式，并将对应的字段反标到原测试用例列表中。
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