[发明专利]基于测点必要度的模拟电路测点选择方法和装置有效
| 申请号： | 201110161752.2 | 申请日： | 2011-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN102818981A | 公开（公告）日： | 2012-12-12 |
| 发明（设计）人： | 黄以锋;景博;谢红星 | 申请（专利权）人： | 黄以锋;景博;谢红星 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 710038 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 提供一种基于测点必要度的模拟电路测点选择方法，包括以下步骤：根据整数编码故障字典生成故障对集PF，计算出与故障对相对应的可隔离测点集的集合TF，初始化最小测点集T1；根据集合TF中每个测点集中元素的个数判断故障字典是否能隔离所有故障；按照测点必要度和故障隔离度等进行测点选择；判断所有故障是否都被隔离。还提供一种基于测点必要度的模拟电路测点选择方法的装置，包括：用于由整数编码故障字典生成故障对集的故障对集生成器，用于计算与每个故障对相对应的可隔离测点集的可隔离测点集生成器，用于通过比较，判断故障字典能否全部被隔离的比较器，用于选择测点的测点选择器和用于判断是否测点已选择完毕的判断器。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 必要 模拟 电路 选择 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种基于测点必要度的模拟电路测点选择方法，包括以下步骤：根据整数编码故障字典生成故障对集PF，计算出与故障对相对应的可隔离测点集的集合TF，初始化最小测点集T1；根据集合TF中每个测点集中元素的个数判断故障字典是否能隔离所有故障；按照测点必要度和故障隔离度等进行测点选择；判断所有故障是否都被隔离，若非所有故障都被隔离，则继续运算，若所有故障都被隔离，则计算停止，所有已选择的测点组成最小测点集。
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