[发明专利]一种X射线灰分测量装置及方法有效
申请号: | 201110162779.3 | 申请日: | 2011-06-16 |
公开(公告)号: | CN102269718A | 公开(公告)日: | 2011-12-07 |
发明(设计)人: | 邸生才 | 申请(专利权)人: | 邸生才 |
主分类号: | G01N23/02 | 分类号: | G01N23/02;G01N23/06 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;田景宜 |
地址: | 100037 北京市西*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明公开了一种X射线灰分测量装置及方法,该装置包括测量容器,其中设置有被测物;静止平台或转动平台,该测量容器设置在该静止平台或该转动平台上;X射线源,发射X射线照射该测量容器;m(m=1、2、3......m)个X射线探测器,用于接收穿透该被测物的X射线并将其转化为探测信号;用于测量该被测物质的厚度值的测厚装置,或者,用于测量该被测物的重量值的测重装置;数据处理单元,用于根据该电信号以及该厚度值,或者,根据该电信号以及该重量值计算煤灰分值,该数据处理装置根据以下数学模型计算该煤灰分值: |
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搜索关键词: | 一种 射线 灰分 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种X射线煤灰分测量装置,其特征在于,包括:测量容器,其中设置有被测物,或输送机,用于输送该被测物;静止平台或转动平台,该测量容器设置在该静止平台或该转动平台上;X射线源,发射X射线照射该被测物;m(m=1、2、3……m)个X射线探测器,用于接收穿透该被测物的X射线并将其转化为探测信号;用于测量该被测物质的厚度值的测厚装置,或者,用于测量该被测物的重量值的测重装置;数据处理单元,用于根据该电信号以及该厚度值,或者,根据该电信号以及该重量值计算煤灰分值,该数据处理装置根据以下数学模型计算该煤灰分值: H = K 2 · [ Σ m i = 1 m k 1 mi ln ( N imi N omi ) / m ] d i 或 H = K 2 · [ Σ m i = 1 m k 1 mi ln ( N imi N omi ) / m ] w i 其中H为煤灰分值,m为该X射线探测器的总数,mi为X射线探测器的序号,K1mi为第mi个X射线探测器的重量标定系数,K2为煤灰分标定系数,Nimi为测量容器中有被测物时,第mi个X射线探测器输出的探测信号,N0mi为测量容器中无被测物时,第mi个X射线探测器输出的探测信号,di为测厚装置测量的被测物的厚度值,Wi为测重装置测量的被测物的重量值。
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