[发明专利]一种实时测量偏振光特性的装置无效

专利信息
申请号: 201110165179.2 申请日: 2011-06-17
公开(公告)号: CN102243104A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: 吴金才;王建宇;贾建军;何志平;舒嵘;杨世骥;张明 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J4/00 分类号: G01J4/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种实时测量偏振光特性的装置,它采用非偏振分光棱镜、半波片、2片偏振分光棱镜及4路光探测器,通过4路光功率的测量来实现入射偏振光特性的实时测量,它适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法采用不同正交基对偏振光进行测量,来获得偏振光的方位角及偏振消光比信息,从而实现对偏振光的特性进行测量,由于两组正交基是同时获得测量数据,可以实现实时测量。
搜索关键词: 一种 实时 测量 偏振光 特性 装置
【主权项】:
一种实时测量偏振光特性的装置,它包括非偏振分光棱镜(1)、半波片(2)、一号偏振分光棱镜(3)、二号偏振分光棱镜(4)、一号探测器(5)、二号探测器(6)、三号探测器(7)和四号探测器(8),其特征在于:所述的非偏振分光棱镜(1)为1∶1偏振不敏感分光镜,对S光及P光的反射率、透射率相差不到1%,同时对S和P透射光的相位延迟误差范围在±3°之内;所述半波片(2)的工作波段覆盖被检偏振光源的波长,口径为25mm,其方位角所处的位置使得反射光的检测基为非S、P基;所述的一号偏振分光棱镜(3)和二号偏振分光棱镜(4)的工作波段与半波片(2)一致;所述的一、二、三、四号探测器(5、6、7、8)采用Si探测器;装置测量时,被检偏振光经过非偏振分光棱镜(1)后分成两路,其透射光经半波片(2)、一号偏振分光棱镜(3)后进行偏振分光,分开的两束光被一、二号探测器(5、6)探测接收;其反射光经过二号偏振分光棱镜(4)后也进行了偏振分光,分开的S、P分量被三、四号探测器(7、8)探测接收;对四个探测器接收到的光能量数据进行后期处理计算获得被测偏振光的消光比及方位角数据。
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