[发明专利]电子部件有效
申请号: | 201110166475.4 | 申请日: | 2011-06-20 |
公开(公告)号: | CN102394413A | 公开(公告)日: | 2012-03-28 |
发明(设计)人: | 雨宫直人 | 申请(专利权)人: | 日本压着端子制造株式会社 |
主分类号: | H01R13/03 | 分类号: | H01R13/03;H01R12/77;C23C28/02;C23C18/32;C25D3/30 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的课题在于提供一种电子部件,其能够确保焊料润湿性和导电性,即使对Sn镀层作用外力也能够抑制晶须的产生。作为解决手段,电子部件(1)具有:主体部(11),其由金属材料形成;底镀层(12),其覆盖在主体部(11)的表面上;以及Sn镀层(13),其是通过在底镀层(12)上覆盖Sn或Sn合金而形成的。底镀层(12)具有通过覆盖Ni-B合金而形成的Ni-B镀层(15)和通过覆盖Ni-P合金而形成的Ni-P镀层(16)中的至少任意一种镀层。Sn镀层的厚度尺寸(Tsn)的平均尺寸被设定在0.2μm以上且0.6μm以下的范围。 | ||
搜索关键词: | 电子 部件 | ||
【主权项】:
一种电子部件,其在表面形成有镀层,该电子部件的特征在于,具有:主体部,其由金属材料形成;底镀层,其覆盖在所述主体部的表面上;以及Sn镀层,其是通过在所述底镀层的表面上覆盖Sn或Sn合金而形成的,所述底镀层具有通过覆盖Ni‑B合金而形成的Ni‑B镀层以及通过覆盖Ni‑P合金而形成的Ni‑P镀层中的至少任意一种镀层,所述Sn镀层的平均厚度尺寸被设定在0.2μm以上且0.6μm以下的范围。
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