[发明专利]一种实时测量偏振光特性的方法无效

专利信息
申请号: 201110167153.1 申请日: 2011-06-21
公开(公告)号: CN102279052A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 王建宇;吴金才;贾建军;何志平;舒嵘;杨世骥;张明 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J4/00 分类号: G01J4/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种实时测量偏振光特性的方法,它采用非偏振分光棱镜、半波片、2片偏振分光棱镜及4路光探测器,通过4路光功率的测量来实现入射偏振光特性的实时测量,它适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法采用不同正交基对偏振光进行测量,来获得偏振光的方位角及偏振消光比信息,从而实现对偏振光的特性进行测量,由于两组正交基是同时获得测量数据,可以实现实时测量。
搜索关键词: 一种 实时 测量 偏振光 特性 方法
【主权项】:
1.一种实时测量偏振光特性的方法,被检偏振光经过非偏振分光棱镜(1)后分成两路,其透射光经方位角为22.5°的半波片(2)和一号偏振分光棱镜(3)后对+45°及-45°偏振分量进行偏振分光,分开的两束光被一、二号探测器(5、6)探测接收;其反射光经过二号偏振分光棱镜(4)后也进行了偏振分光,分开的S、P分量被三、四号探测器(7、8)探测接收,其特征在于:探测器接收的光能量数据处理步骤如下:1)将一号探测器(5)和二号探测器(6)测得的被测偏振光的+45°及-45°分量光强值分别记为E+、E-;2)将三号探测器(7)和四号探测器(8)测得的被测偏振光的S、P分量光强值分别记为Es、Ep;3)步骤1和2获得的测量值表示为:EsEpE+E-=S041+cos2αcos2θ1-cos2αcos2θ1+cos2αsin2θ1-cos2αsin2θ---(1)]]>其中S0为被测偏振光的能量,θ为被测偏振光的方位角,范围为0≤θ≤π,α为被测偏振光的椭圆率角,范围为由公式(1)计算得到被测偏振光的方位角θ值为:tan2θ=(Es+Ep)(E+-E-)(Es-Ep)(E++E-)---(2)]]>其中θ的取值范围确定方法如下:A.当E+-E->0,Es-Ep>0时,0θπ4;]]>B.当E+-E->0,Es-Ep<0时,π4θπ2;]]>C.当E+-E-<0,Es-Ep<0时,π2θ3π4;]]>D.当E+-E-<0,Es-Ep>0时,3π4θπ.]]>4)根据求得的方位角θ,计算椭圆率角α为:cos2α=Es-EpEs+Ep1cos2θ---(3)]]>进而计算出被测偏振光的消光比为:ER=1tan2α=1+cos2α1-cos2α=1+Es-EpEs+Ep1cos2θ1-Es-EpEs+Ep1cos2θ---(4).]]>
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