[发明专利]基于EMVA1288标准的相机性能测试平台有效
申请号: | 201110167987.2 | 申请日: | 2011-06-21 |
公开(公告)号: | CN102253594A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 冯兵;杨艺;陈玉兰;赵严;张勇 | 申请(专利权)人: | 北京凌云光视数字图像技术有限公司 |
主分类号: | G03B43/00 | 分类号: | G03B43/00 |
代理公司: | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人: | 张涛 |
地址: | 100097 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于EMVA1288标准的相机性能测试平台,用于对被测相机进行性能测试,包括积分球、暗箱、设置于暗箱中的光功率计、计算机控制系统和支架,暗箱上设置有入光孔,入光孔与积分球的出光孔相匹配,暗箱内沿积分球的出光孔的光轴方向依次设置有双盘滤波部件和被测相机,双盘滤波部件包括滤光片和衰减片,光功率计位于双盘滤波部件和被测相机之间并避开光轴设置,滤光片、衰减片、光功率计和被测相机均设置在支架上并均与计算机控制系统相连,计算机控制系统将光强度和亮度的衰减值及实时监测的光功率数据计算处理得到EMVA1288标准规定的被测相机性能的参数。该测试平台能够测试EMVA1288标准规定的全部参数,具有结构简单、成本低廉的优点。 | ||
搜索关键词: | 基于 emva1288 标准 相机 性能 测试 平台 | ||
【主权项】:
一种基于EMVA1288标准的相机性能测试平台,用于对被测相机进行性能测试,其特征在于,包括积分球、暗箱、设置于暗箱中的光功率计、计算机控制系统和支架,所述暗箱上设置有入光孔,所述入光孔与积分球的出光孔相匹配,所述暗箱内沿积分球的出光孔的光轴方向依次设置有双盘滤波部件和被测相机,所述双盘滤波部件包括沿光轴方向设置的滤光片和衰减片,所述光功率计位于双盘滤波部件和被测相机之间并避开光轴设置,所述滤光片、衰减片、光功率计和被测相机均设置在支架上并均与计算机控制系统相连,所述计算机控制系统将光强度和亮度的衰减值及实时监测的光功率数据计算处理得到EMVA1288标准规定的被测相机性能的参数。
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