[发明专利]内部显示器端口接口测试方法和设备有效

专利信息
申请号: 201110168811.9 申请日: 2011-06-17
公开(公告)号: CN102290018A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 朴东远;金成勋;金成源;李青皓 申请(专利权)人: 乐金显示有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国;谢雪闽
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种iDP接口测试方法,包括:将测试时钟发送给iDP吸收设备;根据当执行用于测试时钟的时钟锁定操作时HPD信号的测量结果,确定在iDP吸收设备内的链路时钟锁定操作是否成功;如果在iDP吸收设备内的链路时钟锁定操作是成功的,则将测试数据和任意视频数据发送给iDP吸收设备;当执行用于测试数据和任意视频数据的符号锁定操作时,确定在iDP吸收设备内的符号锁定操作是否成功;以及将计数的结果与预定参考值进行比较,根据比较结果确定iDP吸收设备的链路稳定性。
搜索关键词: 内部 显示器 端口 接口 测试 方法 设备
【主权项】:
一种iDP接口测试方法,包括:将测试时钟发送给iDP吸收设备;根据当执行用于测试时钟的时钟锁定操作时从iDP吸收设备输出的HPD信号的测量结果,确定在iDP吸收设备内的链路时钟锁定操作是否成功;如果在iDP吸收设备内的链路时钟锁定操作是成功的,则将测试数据和任意视频数据发送给iDP吸收设备;根据当执行用于测试数据和任意视频数据的符号锁定操作时从iDP吸收设备输出的HPD信号的测量结果,确定在iDP吸收设备内的符号锁定操作是否成功;和在给定时间内对HPD信号的触发数量进行计数,比较该计数结果与预定参考值,并根据比较结果确定iDP吸收设备的链路稳定性。
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