[发明专利]可编程逻辑器件单粒子辐照性能测试系统

摘要

本发明公开了了一种可编程逻辑器件单粒子辐照性能测试系统，涉及集成电路测试技术，包括上位计算机、真空罐、粒子源、至少一层隔离墙、至少一台测量设备、电源；待测电路板包括主控制器、待测可编程逻辑器件、和可选的非易失性存储器、或随机存储器；上位计算机中预装有控制软件。本发明的可编程逻辑器件单粒子辐照性能测试系统，可以实现单粒子辐照实验流程的自动化操作，降低实验操作人员的工作量，并适应多种不同型号的待测可编程逻辑器件，具有通用性。

主权项

一种可编程逻辑器件单粒子辐照性能测试系统，其特征在于：包括上位计算机、真空罐、粒子源、至少一层隔离墙、至少一台测量设备、电源；上位计算机与至少一台测量设备电连接，并双向通讯；粒子源与真空罐固接，面向真空罐内腔；至少一层隔离墙设于上位计算机与粒子源之间，将测量设备、真空罐、电源、粒子源置于隔离墙另一侧，使实验操作人员免于辐射；隔离墙中设有缺口，以布设连接线；测试时，至少一块待测电路板置于真空罐内腔，与测量设备电连接；待测电路板包括主控制器、可编程逻辑器件，主控制器与可编程逻辑器件之间双向通讯，主控制器与上位计算机双向通讯，或主控制器、可编程逻辑器件分别与上位计算机双向通讯；粒子源对准待测电路板上的可编程逻辑器件照射；上位计算机中预装有控制软件；电源为各部件供电。