[发明专利]一种科学级CCD的非线性度标定方法有效
| 申请号： | 201110176043.1 | 申请日： | 2011-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN102853903A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 达争尚;刘力;李东坚;田新锋 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 商宇科 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于激光干涉对科学级CCD的线性度指标进行标定的方法。该述方法包括以下步骤：1)获取已知光场强度分布的干涉光场并将其入射至科学级CCD；2)科学级CCD接收来自步骤1)的已知光场强度分布的干涉光场后输出干涉光场所对应的含有干涉条纹的干涉图像；3)绘制光场强度-灰度分布曲线；7)由非线性度公式分析计算CCD的非线性。本发明提供了一种随机电子噪声影响小、非线性度测量精度高以及非线性度标定结果准确的科学级CCD的非线性度标定方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 科学 ccd 非线性 标定 方法 | ||
【主权项】：
一种科学级CCD的非线性度标定方法，其特征在于：所述科学级CCD的非线性度标定方法包括以下步骤：1)获取已知光场强度分布的干涉光场并将其入射至科学级CCD；2)科学级CCD接收来自步骤1)的已知光场强度分布的干涉光场后输出干涉光场所对应的含有干涉条纹的干涉图像；3)绘制光场强度‑灰度分布曲线；7)由非线性度公式分析计算CCD的非线性。
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