[发明专利]碳化硅PIN微结构的制作方法无效

专利信息
申请号: 201110177841.6 申请日: 2011-06-28
公开(公告)号: CN102254798A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 孙国胜;吴海雷;郑柳;刘兴昉;王雷;赵万顺;闫果果 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L21/20 分类号: H01L21/20;H01L21/265
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种碳化硅PiN微结构的制作方法,包括如下步骤:步骤1:取一n型碳化硅衬底;步骤2:对n型碳化硅衬底的表面进行氢气刻蚀;步骤3:在n型碳化硅衬底上生长n-型变浓度缓冲层;步骤4:在n-型变浓度缓冲层上外延生长本征外延层;步骤5:采用离子注入法,在本征外延层上制备P型层;步骤6:退火,完成碳化硅PIN微结构的制作。
搜索关键词: 碳化硅 pin 微结构 制作方法
【主权项】:
一种碳化硅PiN微结构的制作方法,包括如下步骤:步骤1:取一n型碳化硅衬底;步骤2:对n型碳化硅衬底的表面进行氢气刻蚀;步骤3:在n型碳化硅衬底上生长n‑型变浓度缓冲层;步骤4:在n‑型变浓度缓冲层上外延生长本征外延层;步骤5:采用离子注入法,在本征外延层上制备P型层;步骤6:退火,完成碳化硅PiN微结构的制作。
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