[发明专利]铝合金表面原位生长TiAlN薄膜装置及工艺无效

专利信息
申请号: 201110179088.4 申请日: 2011-06-29
公开(公告)号: CN102242346A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: 张高会;张泽栋;李红卫;李根;郑顺奇;乔宪武;余森江;周云 申请(专利权)人: 中国计量学院
主分类号: C23C14/48 分类号: C23C14/48;C23C14/35;C23C14/16
代理公司: 杭州赛科专利代理事务所 33230 代理人: 陈辉
地址: 310018 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种铝合金表面原位生长TiAlN薄膜装置及工艺,该装置是在真空度可以达到1×10-3~5×10-4Pa并能充入气体介质的真空室上,设有离子注入源1;磁控溅射靶2;真空系统3;供气系统4;离子注入控制电源5;磁控溅射控制电源6;旋转工件支架7;以及一些辅助观察窗和测温仪。具体来讲是铝合金作基材,钛为溅射靶材,氮气为注入气体,将离子溅射技术与离子注入技术复合起来,在离子溅射腔内通入氩气,利用氩离子溅射纯钛,沉积于铝合金,并同时注入N离子。利用离子溅射均匀、颗粒细小,以及离子注入结合力好,不产生形变的特点,在铝合金表面离子溅射钛,并同时注入N离子,N离子既是注入离子也是反应元素,按照一定的工艺参数进行离子溅射和离子注入。在铝合金表面原位生长高硬度TiAlN薄膜,达到铝合金表面改性的目的。具有表面状况好,精密、可控特点。
搜索关键词: 铝合金 表面 原位 生长 tialn 薄膜 装置 工艺
【主权项】:
一种铝合金表面原位生长TiAlN薄膜装置,其特征在于:该装置是在真空度可以达到1×10 3~5×10 4Pa并能充入气体介质的真空室上,设有离子注入源1、磁控溅射靶2、真空系统3、供气系统4、离子注入控制电源5、磁控溅射控制电源6、旋转工件支架7以及一些辅助观察窗和测温仪,磁控溅射靶与磁控溅射控制电源连接,离子注入源与离子注入控制电源连接,真空系统、供气系统分别与装置的真空室内空间连接,离子注入源、磁控溅射靶、旋转工件支架都固定在真空室内。
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