[发明专利]一种数字集成电路功能测试仪

摘要

本发明公开了一种数字集成电路的功能测试仪，在时序控制模块的控制下，功能测试的读测试矢量、格式化编码、测试结果的采集与比较以及写结果矢量四个阶段实现了并行工作。由于在读取测试矢量环节只需要关心测试矢量存储器的读取时间，在格式化编码环节只需要关心测试矢量的建立和保持时间，在测试结果的采集和比较环节只需要关心输出延迟时间和建立时间的差，保证能采回输出，在写结果存储器环节只需要关心写结果存储器的时间。这样，相比于传统方法的最小测试周期需要大于四个环节分别要求的时间之和，本发明可实现的最小测试周期只要大于四个时间中最大的即可，于是在测试同一种数字集成电路的情况下，本发明相对于传统的方法可以很大程度上提高测试速度。

主权项

一种数字集成电路功能测试仪包括矢量存储器、读测试矢量模块、格式化编码模块、输入电平转换模块、程控电源模块、输出电平转换模块、采集与比较模块、写结果矢量模块以及结果存储器，程控电源模块为输入电平转换模块、输出电平转换模块提供电平转换所需的高低电平电压，其特征在于，还包括一时序控制模块、地址总线产生模块；在时序控制模块的控制下，在第一个测试周期，地址总线产生模块地址指针指向第一条测试矢量的地址，地址总线产生模块输出第一条测试矢量的地址给矢量存储器，读测试矢量模块从矢量存储器中读取第一条测试矢量及其对应的测试期望结果，然后经过第一个测试周期后，第一条测试矢量已经被稳定地被读取，对应的测试期望结果送入时序控制模块暂存；在第二个测试周期，格式化编码模块对读取的第一条测试矢量设置合适的时钟建立点和返回点，进行合适的格式化编码，并输出给输入电平转换模块进行电平转换，接着将格式化编码后的第一条测试矢量施加到被测数字集成电路的输入管脚，经过第二个测试周期后，被测数字集成电路稳定输出；同时，地址总线产生模块地址指针加1，指向下一条测试矢量的地址，地址总线产生模块输出第二条测试矢量的地址给矢量存储器，读测试矢量模块从矢量存储器中读取第二条测试矢量及其对应的测试期望结果，然后经过第二个测试周期后，第二条测试矢量已经被稳定地被读取，对应的测试期望结果送入时序控制模块暂存；在第三个测试周期，被测数字集成电路的输出经输出电平转换模块进行电平转换后，由采集与比较模块采回，并作为第一条测试矢量的测试结果与时序控制模块中暂存的第一条测试矢量对应的测试期望结果进行比较；同时，格式化编码模块对读取的第二条测试矢量设置合适的时钟建立点和返回点，进行合适的格式化编码，并输出给输入电平转换模块进行电平转换，接着将格式化编码后的第二条测试矢量施加到被测数字集成电路的输入管脚，经过第三个测试周期后，被测数字集成电路稳定输出；同时，地址总线产生模块地址指针加1，指向下一条测试矢量的地址，地址总线产生模块输出第三条测试矢量的地址给矢量存储器，读测试矢量模块从矢量存储器中读取第三条测试矢量及其对应的测试期望结果，然后经过第三个测试周期后，第三条测试矢量已经被稳定地被读取，对应的测试期望结果送入时序控制模块暂存；在第四个测试周期，写结果矢量模块将第一条测试矢量的测试结果及与其测试期望结果的比较结果存入结果存储器中；同时，被测数字集成电路的输出经输出电平转换模块进行电平转换后，由采集与比较模块采回，并作为第二条测试矢量的测试结果与时序控制模块期暂存的第二条测试矢量对应的测试期望结果进行比较；同时，格式化编码模块对读取的第三条测试矢量设置合适的时钟建立点和返回点，进行合适的格式化编码，并输出给输入电平转换模块进行电平转换，接着将格式化编码后的第三条测试矢量施加到被测数字集成电路的输入管脚，经过第四个测试周期后，被测数字集成电路稳定输出；同时，地址总线产生模块地址指针加1，指向下一条测试矢量的地址，地址总线产生模块输出第四条测试矢量的地址给矢量存储器，读测试矢量模块从矢量存储器中读取第四条测试矢量及其对应的测试期望结果，然后经过第四个测试周期后，第四条测试矢量已经被稳定地被读取，对应的测试期望结果送入时序控制模块暂存。至此，后面的每一个测试周期，对依次读取下一条测试矢量及其对应的测试期望结果，对读取的测试矢量进行格式编码和电平转换并施加到被测数字集成电路的输入管脚，对上一条测试矢量的测试结果采回和比较，对上上一条测试矢量的测试结果及与其测试期望结果的比较结果存入结果存储器，从而完成数字集成电路的功能测试。