[发明专利]薄膜太阳电池及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110183001.0 申请日: 2011-06-30
公开(公告)号: CN102255005A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 李贵君;王明华;牛新伟;周曦;丁建;杨立友 申请(专利权)人: 浙江正泰太阳能科技有限公司
主分类号: H01L31/20 分类号: H01L31/20;H01L31/0352;H01L31/075
代理公司: 北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 代理人: 冯谱
地址: 310053 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种薄膜太阳电池及其制造方法。本发明的制造方法包括:提供一衬底,在衬底上形成透明导电氧化物层;在该透明导电氧化物层上形成包括N型掺杂层,非晶硅本征吸收层和P型掺杂层的PiN结或NiP结;在PiN结或NiP结上形成背电极层;其特征在于:在所述PiN结或所述NiP结中的P型掺杂层和非晶硅本征吸收层之间,形成界面缓冲层,所述界面缓冲层包括与P型掺杂层接触的非晶硅碳层缓冲层和与非晶硅本征吸收层接触的Protocrystalline阻挡层;所述Protocrystalline阻挡层为处于非晶硅/微晶硅过渡区域的靠近非晶硅一侧的非晶硅薄膜。本发明还提供一种使用该方法形成的电池结构。本发明解决了现有薄膜太阳电池缓冲层的缺陷,有效解决了碳元素和硼元素的扩散问题以及温度切换带来的问题,具有大规模应用的前景。
搜索关键词: 薄膜 太阳电池 及其 制造 方法
【主权项】:
一种制造薄膜太阳电池的方法,包括以下步骤:提供一衬底(100),在所述衬底(100)上形成透明导电氧化物层(200);在所述透明导电氧化物层(200)上形成PiN结(800)或NiP结(900),所述PiN结(800)或NiP结(900)包括:N型掺杂层(500),非晶硅本征吸收层(400)和P型掺杂层(300);在所述PiN结(800)或NiP结(900)上形成背电极层(600);其特征在于:在所述PiN结(800)或所述NiP结(900)中的P型掺杂层(300)和非晶硅本征吸收层(400)之间,形成界面缓冲层(700),所述界面缓冲层(700)包括与P型掺杂层(300)接触的非晶硅碳缓冲层(710)和与非晶硅本征吸收层(400)接触的Protocrystalline阻挡层(720);所述Protocrystalline阻挡层(720)为处于非晶硅/微晶硅过渡区域的靠近非晶硅一侧的非晶硅薄膜。
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