[发明专利]一种提高刻蚀速率选择比稳定性的管道系统及方法有效
申请号: | 201110183468.5 | 申请日: | 2011-07-01 |
公开(公告)号: | CN102420127A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
发明(设计)人: | 李阳柏;张传民 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 王敏杰 |
地址: | 201210 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及微电子领域,尤其涉及一种提高刻蚀速率选择比稳定性的管道系统及方法。本发明一种提高刻蚀速率选择比稳定性的管道系统及方法,通过添加辅助槽及与多个工艺槽连接形成循环,从而各工艺槽中刻蚀溶液趋于相同,刻蚀速率也趋于相同,且由于参与循环的刻蚀溶液体积变大,SiO2含量变化也相对减小,因而刻蚀选择比也相对稳定;而取消换酸设置,改为每隔一段时间或是每生产一定量的硅片后,排掉少量的刻蚀溶液,从辅助槽中补充刻蚀溶液,从而解决新刻蚀溶液中SiO2含量相对偏高时,当对氮化硅进行刻蚀,会对氧化膜造成较大的损伤的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 刻蚀 速率 选择 稳定性 管道 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种提高刻蚀速率选择比稳定性的管道系统,包括数个工艺槽,其特征在于,还包括:第一辅助槽和第二辅助槽,所述工艺槽与所述第一辅助槽之间通过供应管连接,所述工艺槽与所述第二辅助槽之间通过循环管连接,所述第一辅助槽与所述第二辅助槽通过辅助槽间循环管连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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