[发明专利]三维光学膜的瑕疵检测方法及系统有效
| 申请号： | 201110184257.3 | 申请日： | 2011-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN102288619A | 公开（公告）日： | 2011-12-21 |
| 发明（设计）人： | 赵新民 | 申请（专利权）人： | 明基材料有限公司;明基材料股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G06T7/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215121 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种三维光学膜的瑕疵检测方法及系统，该方法包含下列步骤。接收对应于待检测的三维光学膜的待检测影像；根据该待检测影像中的至少一区域，求得该区域于第一方向上的复数个第一投影量；根据第二步骤所求得的该区域的该等第一投影量，求得对应于该区域的第一瑕疵检测参数；根据第三步骤所求得的对应于该区域的该第一瑕疵检测参数，判断该待检测影像中的该区域是否具有瑕疵；及输出上一步骤的判断结果。通过本发明，可对具有纹理特性的三维光学膜进行瑕疵检测。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 光学 瑕疵 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种三维光学膜的瑕疵检测方法，利用处理单元配合影像撷取单元来执行，该影像撷取单元用以撷取对应于待检测的三维光学膜的待检测影像，其特征在于该方法包含下列步骤：(A)接收该待检测影像；(B)根据该待检测影像中的至少一个区域，求得该区域于第一方向上的复数个第一投影量；(C)根据步骤(B)所求得的该区域的该复数个第一投影量，求得对应于该区域的第一瑕疵检测参数；(D)根据步骤(C)所求得的对应于该区域的该第一瑕疵检测参数，判断该待检测影像中的该区域是否具有瑕疵；及(E)输出步骤(D)的判断结果。
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