[发明专利]成像装置、显示成像装置以及电子设备无效

专利信息
申请号: 201110184805.2 申请日: 2011-07-01
公开(公告)号: CN102315235A 公开(公告)日: 2012-01-11
发明(设计)人: 池田雅延;伊藤良一;石原圭一郎;佐佐木义一 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L27/32;G02F1/1368
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 本申请披露了成像装置、显示成像装置以及电子设备,该成像装置包括:多个光检测元件,设置在基板上,每个均具有用于沟道区的第一半导体层;以及多个驱动元件,设置在该基板上,每个均具有用于沟道区的第二半导体层,其中,第一和第二半导体层均为结晶化半导体层,第一和第二半导体层的厚度和杂质浓度大致相等,并且第一和第二半导体层均具有不高于2.0×1017(cm-3)的平均陷阱能级密度,该平均陷阱能级密度是在本征费米能级Ei±0.2eV范围内通过FE(场效应)法获得的陷阱能级密度的平均值。
搜索关键词: 成像 装置 显示 以及 电子设备
【主权项】:
一种成像装置,包括:多个光检测元件,设置在基板上,每个均具有用于沟道区的第一半导体层;以及多个驱动元件,设置在所述基板上,每个均具有用于沟道区的第二半导体层,其中所述第一半导体层和所述第二半导体层均为结晶化半导体层,所述第一半导体层和所述第二半导体层的厚度和杂质浓度大致相等,并且所述第一半导体层和所述第二半导体层均具有不高于2.0×1017cm‑3的平均陷阱能级密度,所述平均陷阱能级密度是在本征费米能级Ei±0.2eV范围内通过场效应法获得的陷阱能级密度的平均值。
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