[发明专利]阵列测试装置无效
| 申请号： | 201110184853.1 | 申请日： | 2011-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN102568359A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 潘俊浩 | 申请（专利权）人： | 塔工程有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01N27/82 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 张文;郭放 |
| 地址： | 韩国庆*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开一种阵列测试装置。本发明的阵列测试装置可以不需要将气体排放到玻璃面板上以将调制器与玻璃面板间隔开预定距离的结构，或者可以构造为使得排放到玻璃面板上的气体的压力减小。因此，本发明可以解决由于排放到玻璃面板上的气体所导致的损伤玻璃面板的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种阵列测试装置，包括：调制器，所述调制器面向玻璃面板设置；固定块，所述固定块设置在所述调制器周围；移动块，所述移动块与所述调制器联接，所述移动块由所述固定块支撑以能够被抬升；以及调制器移动单元，所述调制器移动单元设置在所述固定块与所述移动块之间，所述调制器移动单元沿远离所述玻璃面板的方向移动所述调制器。
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