[发明专利]一种PIN倒置结构紫外雪崩光电探测器及其制备方法无效
申请号: | 201110186476.5 | 申请日: | 2011-07-05 |
公开(公告)号: | CN102244135A | 公开(公告)日: | 2011-11-16 |
发明(设计)人: | 江灏;李剑飞 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/105;H01L31/0352;H01L31/18 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 禹小明 |
地址: | 510275 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种PIN倒置结构紫外雪崩光电探测器及其制备方法。器件包括衬底及生长于衬底之上的外延层,其中,外延层自下而上的顺序依次为缓冲层,p型掺杂GaN层,若干周期的δ掺杂缓冲GaN层,高阻非掺杂或低掺杂浓度的本征GaN有源层,n型掺杂GaN层。器件的制备流程包括:利用光刻、干法刻蚀进行器件台面、探测窗口的制作,分别在p型GaN层和n型GaN层制作p型和n型电极,经过合金后实现金属与半导体形成欧姆接触。使n型层处于顶层,避免了常规结构中p型层位于最上面时的情况下需要采用背入射方式所带来的入射光信号损失或外延结构缺陷,有利于光信号激发的空穴获得最大的增益路径,实现高增益高响应的高性能紫外探测器。 | ||
搜索关键词: | 一种 pin 倒置 结构 紫外 雪崩 光电 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种PIN倒置结构的紫外雪崩光电探测器,其特征在于:从下到上依次为蓝宝石衬底、缓冲层、p型掺杂GaN层、δ掺杂缓冲GaN层、有源层、n型掺杂GaN层、以及制作于n型GaN层上的n型欧姆接触电极、制作于p型GaN层的p型欧姆接触电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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