[发明专利]一种多晶硅表面两次酸刻蚀织构的制备方法无效
申请号: | 201110188048.6 | 申请日: | 2011-07-06 |
公开(公告)号: | CN102867880A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 周艺;郭长春;李荡;黄岳文;肖斌;欧衍聪 | 申请(专利权)人: | 长沙理工大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 410114 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种不同于以往工艺的多晶硅表面两次酸刻蚀织构的制备方法,该方法能够解决硅片腐蚀坑的不均匀现象,进而解决了太阳能电池片在PECVD镀膜后存在的色差问题,优化了太阳电池片的外观。本发明采用了一种两次酸刻蚀织构制备方法,第一次酸刻蚀织构的特点为温度较低和时间较短,通过控制刻蚀反应液各组分浓度,有效去除硅片表面的机械损伤层,同时形成了较小的腐蚀坑;第二次织构的特点为温度较高和时间较长,在硅片表面形成了较大且均匀的腐蚀坑。通过此方法有效克服了传统工艺腐蚀坑不均匀的缺点,消除了太阳能电池片在PECVD镀膜后出现的色差问题,同时该工艺不增加生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 多晶 表面 两次 刻蚀 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种多晶硅表面两次酸刻蚀织构制备方法,其特征包括以下工艺步骤:1)配制一定浓度的以HF‑HNO3为基础的酸溶液,使HF浓度为3mol/L‑3.3mol/L,HNO3浓度为9mol/L‑9.8mol/L,循环时间为2小时;2)控制酸刻蚀液温度为3‑10℃,损伤层密度不同的硅片于溶液中反应40‑60s,然后用去离子水清洗;3)清洗后的硅片于2%的NaOH溶液中反应10s,去除表面的多孔硅,然后用去离子水清洗;4)清洗后的硅片于5%的HF和10%的HCl混合溶液中反应30s, 去除表面的金属离子和氧化层,然后用去离子水清洗后吹干;5)控制酸刻蚀液温度为6‑12℃,将之前刻蚀后的硅片,放入酸刻蚀液中进行二次酸刻蚀织构,反应时间控制在40‑60s;6)二次酸刻蚀织构后的硅片于2%的NaOH溶液中反应10s,去除表面的多孔硅,然后用去离子水清洗;7)清洗后的硅片于HF和HCl混合溶液中反应30s, 去除表面的金属离子和氧化层,然后用去离子水清洗后吹干;8)依次进行扩散,等离子刻蚀,去磷硅玻璃,PECVD,丝网印刷和烧结工艺,将硅片做成太阳电池片。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长沙理工大学,未经长沙理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110188048.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的