[发明专利]GIS设备内部缺陷可视化智能识别方法无效

专利信息
申请号: 201110192567.X 申请日: 2011-07-11
公开(公告)号: CN102230902A 公开(公告)日: 2011-11-02
发明(设计)人: 于虹;魏杰;王达达;赵现平;吴章勤;况华;张少泉;王科;蔡晓兰;薛飞 申请(专利权)人: 云南电力试验研究院(集团)有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 昆明大百科专利事务所 53106 代理人: 何健
地址: 650217 云南省昆明*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明涉及一种电力设备内部缺陷检测方法,尤其涉及一种GIS设备内部缺陷可视化智能识别方法。本发明的一种GIS设备内部缺陷可视化智能识别方法,该方法包括如下步骤:A.对GIS设备进行局部放电源的检测;B.对检测到的局部放电源数据进行图谱特征提取;C.对局部放电源区域进行可视化成像并形成X射线透照图片;D.将利用X射线数字成像检测系统获得的X射线透照图片进行特征提取;E.进行相似度检索;F.根据相似度检索结果确定GIS设备内部缺陷的性质和位置。本发明能够实现对GIS设备内部缺陷性质和位置的可视化智能识别,提高GIS设备内部缺陷检测和诊断的科学性、高效性和准确性。
搜索关键词: gis 设备 内部 缺陷 可视化 智能 识别 方法
【主权项】:
GIS设备内部缺陷可视化智能识别方法,其特征在于,包括如下步骤:A.对GIS设备进行局部放电源的检测;B.对检测到的局部放电源数据进行图谱特征提取;C.利用X射线数字成像检测系统,对局部放电源区域进行可视化成像并形成X射线透照图片;D.将利用X射线数字成像检测系统获得的X射线透照图片进行特征提取;E.将获得的局部放电源数据的图谱特征和利用X射线数字成像检测系统获得的X射线透照图片的特征分别与预设的图谱特征和预设的X射线透照图片特征进行相似度检索;F.根据相似度检索结果确定GIS设备内部缺陷的性质和位置。
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