[发明专利]一种干涉型高光谱成像仪的光谱漂移检测方法有效

专利信息
申请号: 201110194801.2 申请日: 2011-07-12
公开(公告)号: CN102322957A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 王爱春;傅俏燕;闵祥军;潘志强;康倩;林军 申请(专利权)人: 中国资源卫星应用中心
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 庞静
地址: 100094 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种干涉型高光谱成像仪的光谱漂移检测方法,(1)将该高光谱成像仪光谱数据转化为各波段入瞳处辐亮度,作为待检验光谱辐亮度;(2)获得卫星高度的入瞳处辐亮度;(3)通过高光谱成像仪响应函数得到各波段入瞳处辐亮度,作为参考光谱辐亮度;(4)比对待检验光谱辐亮度与参考光谱辐亮度在大气吸收峰的位置,通过判断函数确定待检验光谱辐亮度与参考光谱辐亮度的偏移量是否达到约束条件,如果达到转步骤(5);否则调整高光谱成像仪响应函数中波长和带宽的调整量,从步骤(3)开始循环判断;(5)将满足约束条件时确定的高光谱成像仪光谱漂移量,对高光谱成像仪干涉数据重新进行傅立叶逆变换得到高光谱成像仪去除光谱漂移后的光谱数据图。
搜索关键词: 一种 干涉 光谱 成像 漂移 检测 方法
【主权项】:
一种干涉型高光谱成像仪的光谱漂移检测方法,其特征在于步骤如下:(1)读取高光谱成像仪干涉数据图,对该高光谱成像仪干涉数据进行离散傅立叶逆变换得到高光谱成像仪光谱数据图;通过绝对辐射定标系数,将该高光谱成像仪光谱数据转化为高光谱成像仪的各波段入瞳处辐亮度,将其作为待检验光谱辐亮度;(2)依据卫星成像时地面实测地表参数和大气参数,利用辐射传输模型获得卫星高度的入瞳处辐亮度;(3)通过高光谱成像仪响应函数得到高光谱成像仪的各波段入瞳处辐亮度,将其作为参考光谱辐亮度;(4)比对卫星成像时待检验光谱辐亮度与参考光谱辐亮度在大气吸收峰的位置,通过判断函数确定待检验光谱辐亮度与参考光谱辐亮度的偏移量是否达到约束条件,如果达到则转步骤(5);否则,调整高光谱成像仪响应函数中波长和带宽的调整量,从步骤(3)开始循环判断;(5)将满足约束条件时确定的高光谱成像仪光谱漂移量,对高光谱成像仪干涉数据重新进行傅立叶逆变换得到高光谱成像仪去除光谱漂移后的光谱数据图。
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